POLOS 用于半导体上的单点测量装置

POLOS 用于半导体上的单点测量装置

polos 单点测量装置

微型化解决方案，用于对透明和半透明的单层薄膜或薄膜堆叠进行精确和精确的非破坏性层厚测量。保证高度准确和可重复的测量。

POLOS  FR-ES 是一种紧凑、轻便的装置，用于涂层表征。使用 FR-ES，用户可以在 370 - 1700 nm 光谱范围内进行反射率和透射率测量。

FR-ES 平台旨在提供 涂层表征性能。

FR-ES 可用于各种不同的应用，例如：薄膜厚度、折射率、颜色、透射率、反射率等等。有三种配置可供选择：

可见光/近红外 （370 - 1020 nm）、NIR-N1 （850 - 1050 nm）、NIR （900 - 1700 nm）。

然后，有各种各样的配件，例如：

滤光片可在某些光谱范围内阻挡光线

FR-Mic 用于非常小区域的测量

手动载物台，25 x 25 mm、100 x 100 mm 或 200 x 200 mm

用于吸光度/透射率和化学浓度测量的胶片/比色皿支架

用于漫反射和总反射的积分球

通过不同模块的组合，最终设置满足任何最终用户的需求。

polos  测量台的应用：

大学和研究实验室

半导体

生命科学

聚合物和光刻胶特性

化学测量

介电特性

生物 医学

硬化涂层， 阳极氧化， 金属零件加工

光学镀膜

非金属薄膜

FR-ES 370 - 1020 nm 光谱范围

紧凑、轻便的台式系统

广泛应用于半导体、大学和研究实验室、生命科学等领域

广泛的附件

单击分析（无需初始猜测）

品牌：POLOS 系列

产品编号：FR-ES-VIS/NIR 近红外

大小：FR-ES 系列

材料：台式系统

厚度范围：12 纳米 - 100 微米

光谱范围：370 - 1020 纳米

光源 MTBF：卤素灯（内部）

 POLOS 用于半导体上的单点测量装置