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POLOS 实时光谱测量装置用于研究所

POLOS 实时光谱测量装置用于研究所及产品简介:
polos 单点测量装置微型化解决方案,用于对透明和半透明的单层薄膜或薄膜堆叠进行精确和精确的非破坏性层厚测量。保证高度准确和可重复的测量。

  • 产品型号:FR-Mic
  • 厂商性质:经销商
  • 更新时间:2025-01-06
  • 访  问  量:347
立即咨询

联系电话:18518172431

详细介绍

POLOS 实时光谱测量装置用于研究所

FR-Mic 提供:

实时光谱测量

薄膜厚度、光学特性、不均匀性测量、厚度映射

使用集成的 USB 连接高质量彩色相机进行成像

 使用 FR-Mic,只需单击一下,即可在 UV / VIS / NIR 光谱范围内的任何光谱范围内对薄膜厚度、光学常数、反射率、透射率和吸光度进行局部测量。

 

FR-Mic  是用于快速&准确的涂层表征应用的模块化光学柱,这些应用需要小至几微米的光斑尺寸,典型的例子包括(但不限于):微图案表面,粗糙表面和许多其他。它可以与专用的计算机控制的XY舞台结合使用,从而可以快速、轻松且准确地自动映射样品的厚度和光学属性。


POLOS 实时光谱测量装置用于研究所



 

POLOS 系列

FR-Mic 370 nm - 1700 nm 光谱范围


实时光谱测量

薄膜厚度、光学特性、不均匀性测量、厚度映射

使用集成的 USB 连接高质量彩色相机进行成像


品牌POLOS 系列

产品编号FR-麦克风-370-1700

大小FR-Mic 麦克风

材料台式系统

厚度范围15 nm 至 150 μm

光谱范围370 纳米 - 1700 纳米

光源 MTBF卤素灯(内部),3000 小时(不包括在内!


FR-Mic 370 nm - 1700 nm 光谱范围   应用:

大学和研究实验室

半导体(氧化物、氮化物、硅、光刻胶等)


POLOS 实时光谱测量装置用于研究所






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